Description
HIOKI CT6704 Current Probe – Current Probe 200 A 30 MHz
HIOKI CT6704 adalah current probe berperforma tinggi yang dirancang untuk pengukuran bentuk gelombang arus pada aplikasi arus tinggi dan frekuensi tinggi. Menggunakan teknologi fluxgate sensing, CT6704 mampu melakukan pengukuran hingga 200 A dengan bandwidth lebar DC hingga 30 MHz, sehingga cocok digunakan untuk menganalisis transisi switching yang sangat cepat pada sistem elektronika daya modern.
Current probe ini dikembangkan untuk membantu engineer mendapatkan bentuk gelombang arus yang stabil dan akurat, khususnya pada pengembangan power converter, inverter, motor drive, kendaraan listrik, baterai, serta perangkat semikonduktor SiC dan GaN.
HIOKI CT6704 – Keunggulan Produk
Bandwidth Lebar DC hingga 30 MHz
CT6704 memiliki bandwidth frekuensi DC hingga 30 MHz (-3 dB). Bandwidth yang lebar memungkinkan probe menangkap perubahan arus dengan cepat, termasuk transisi switching berkecepatan tinggi.
Dengan rise time maksimum 11,6 ns, CT6704 dapat digunakan untuk mengamati detail bentuk gelombang pada rangkaian elektronika daya modern.
Kemampuan Pengukuran Arus hingga 200 A
CT6704 mampu melakukan pengukuran arus kontinu hingga 200 A RMS pada DC dan gelombang sinus, dengan derating yang berlaku pada frekuensi tertentu.
Untuk kondisi transien, probe dapat menangani arus puncak hingga ±400 A peak dalam waktu hingga 2 detik. Kemampuan ini membuat CT6704 sesuai untuk aplikasi yang membutuhkan pengamatan arus besar sekaligus perubahan arus berkecepatan tinggi.
Teknologi Fluxgate untuk Pengukuran yang Lebih Stabil
Salah satu keunggulan utama CT6704 adalah penggunaan teknologi fluxgate sensing.
Teknologi ini dirancang untuk mengurangi pengaruh thermal drift dan self-heating yang dapat menyebabkan perubahan atau pergeseran bentuk gelombang selama proses pengukuran.
Hal ini sangat penting ketika engineer melakukan pengukuran dalam waktu lama atau pada kondisi high-current, high-frequency, di mana panas yang dihasilkan selama pengukuran dapat menjadi salah satu faktor yang memengaruhi kestabilan hasil.
Mengurangi Pemanasan pada Pengukuran Frekuensi Tinggi
Pengukuran arus besar pada frekuensi tinggi dapat menyebabkan pemanasan induktif di dalam current probe. Kondisi tersebut dapat membatasi rentang pengukuran dan menyebabkan kebutuhan derating.
HIOKI CT6704 dirancang untuk mengurangi inductive heating sehingga memungkinkan pengukuran pada kondisi high-current dan high-frequency dengan rentang operasi yang lebih luas.
Hal ini sangat berguna untuk pengujian perangkat dan sistem yang bekerja pada frekuensi switching tinggi.
Cocok untuk Pengujian SiC dan GaN
CT6704 ditujukan untuk kebutuhan pengukuran pada sistem elektronika daya generasi baru yang menggunakan semiconductor seperti Silicon Carbide (SiC) dan Gallium Nitride (GaN).
Pada aplikasi tersebut, perubahan arus terjadi sangat cepat dan ripple atau parasitic component yang kecil sekalipun dapat memengaruhi hasil analisis.
Dengan bandwidth hingga 30 MHz dan rise time hingga 11,6 ns, CT6704 dapat membantu engineer mengamati bentuk gelombang arus secara lebih detail, termasuk pada double-pulse testing dan analisis switching loss.
Koneksi Langsung ke Oscilloscope HIOKI CT6704
HIOKI CT6704 menggunakan standard BNC output, sehingga dapat digunakan dengan berbagai oscilloscope yang kompatibel.
Fleksibilitas ini memungkinkan satu current probe digunakan pada berbagai platform oscilloscope dan lingkungan laboratorium tanpa bergantung pada satu merek instrumen tertentu.
CT6704 juga dapat dihubungkan langsung dengan HIOKI MR6000 Memory HiCorder, yang menyediakan power supply sensor secara terintegrasi untuk membentuk sistem pengukuran waveform dan recording dari HIOKI.
Aplikasi HIOKI CT6704
HIOKI CT6704 dapat digunakan dalam berbagai aplikasi pengujian dan pengembangan elektronika daya, antara lain:
- Pengujian power supply
- Pengujian switching power supply
- Analisis power converter
- Pengujian inverter
- Pengujian semiconductor SiC dan GaN
- Double-pulse testing
- Analisis switching loss
- Pengujian motor drive
- Pengembangan kendaraan listrik (EV)
- Pengujian sistem baterai
- Pengembangan sistem energi
- Analisis transient current
- Pengukuran arus frekuensi tinggi
- Penelitian dan pengembangan elektronika daya
Spesifikasi HIOKI CT6704
HIOKI CT6704 Basic specifications
| Frequency bandwidth | DC to 30 MHz (−3 dB) |
|---|---|
| Rise time | 11.6 ns or shorter |
| Noise level | 25 mA rms typical (for 20 MHz band measuring instrument) |
| Continuous allowable input | 200 A rms (DC, and sine wave, requires derating at frequency) |
| Max. allowable peak input | ±400 A peak (within 2 s.) |
| Amplitude accuracy | ±0.5% rdg. ±0.5 mV (DC, sine wave 45 to 66 Hz, 0 to 200 A rms) ±1% rdg. (DC, sine wave 45 to 66 Hz, 200 to 400 A peak) |
| Output rate | 0.01 V/A (The output of this probe is internally terminated) |
| Measurable conductors | Insulated conductor |
| Core diameter | φ 20 mm (0.79 in.) |
| Power supply | ±12 V ±0.5 V, 7.2 VA |
| Dimensions and mass | Sensor: 163 mm (6.42 in.) W × 67 mm (2.64 in.) H × 23 mm (0.91 in.) D Junction box: 45 mm (1.77 in.) W × 120 mm (4.72 in.) H × 26 mm (1.02 in.) D Mass: 425 g (15.0 oz.) Sensor cable BNC terminal: 1.5 m (4.92 ft), Power cable: 1 m (3.28 ft), Power plug: FFA.0S.304.CLAC37Y / LEMO inc. |
| Cable length | Sensor/junction box: 1700 mm (66.93 in.) Junction box/BNC terminal: 300 mm (11.81 in.) Power cord: 1000 mm (39.37 in.) |
| Included accessories | Instruction manual ×1, Carrying case ×1 |
Hioki CT6704 untuk Analisis Waveform Arus
Dalam pengembangan sistem elektronika daya, pengukuran arus tidak hanya membutuhkan kemampuan membaca nilai RMS atau DC. Engineer sering kali perlu melihat bentuk gelombang arus secara real-time, termasuk ripple, transient, switching transition, dan perubahan arus yang terjadi dalam waktu sangat singkat.
CT6704 dirancang untuk kebutuhan tersebut. Kombinasi 200 A current measurement, 30 MHz bandwidth, dan teknologi fluxgate sensing memungkinkan pengukuran waveform yang stabil pada aplikasi dengan tuntutan performa tinggi.
Hal ini menjadikannya salah satu solusi untuk proses design verification, troubleshooting, performance evaluation, dan R&D pada sistem elektronika daya.
Mengapa Memilih HIOKI CT6704?
Beberapa karakteristik utama CT6704 yang membuatnya sesuai untuk aplikasi pengukuran arus berkecepatan tinggi adalah:
1. Bandwidth hingga 30 MHz
Mampu menangkap perubahan arus berkecepatan tinggi.
2. Kapasitas hingga 200 A RMS
Memungkinkan pengukuran pada aplikasi high-current.
3. Fluxgate sensing technology
Membantu mengurangi thermal drift dan menjaga kestabilan waveform.
4. Rise time hingga 11,6 ns
Mendukung pengamatan switching transition yang cepat.
5. Standard BNC output
Dapat digunakan dengan berbagai oscilloscope yang kompatibel.
6. Dirancang untuk high-frequency dan high-current measurement
Sesuai untuk kebutuhan pengujian power electronics generasi terbaru.
7. Kompatibel dengan HIOKI MR6000 Memory HiCorder
Memungkinkan integrasi dengan sistem pengukuran waveform HIOKI.
HIOKI CT6704 untuk Kebutuhan Industri
Dengan kemampuan pengukuran hingga 200 A dan bandwidth DC hingga 30 MHz, HIOKI CT6704 dapat digunakan sebagai current probe untuk berbagai kebutuhan testing, measurement, troubleshooting, dan research & development.
Terutama pada sistem yang menggunakan teknologi switching berkecepatan tinggi seperti SiC dan GaN, kemampuan untuk melihat waveform arus secara detail menjadi bagian penting dalam proses validasi desain dan evaluasi performa.
Jika Anda membutuhkan current probe HIOKI CT6704 untuk aplikasi industri, laboratorium, R&D, power electronics, inverter, motor drive, EV, atau pengujian semiconductor, hubungi tim kami untuk informasi harga, ketersediaan produk, dan penawaran.
